Un équipement de haute technologie

Depuis 2015, l’UNC héberge une plateforme de microscopie innovante : plateforme de microscopie électronique à transmission (MET) et à balayage (MEB). Première sur le territoire, cet équipement haute technologie du CRESICA (financé par un contrat État inter-collectivité et Glencore) est destiné à être utilisée par l’ensemble des membres du consortium ainsi que par les industriels du territoire. Les deux microscopes électroniques possèdent des configurations variées et sont accompagnés d’un laboratoire de préparation d’échantillons.
Une équipe de 3 personnes (technicien, ingénieur et enseignant-chercheur) assure l’accompagnement méthodologique, la formation des utilisateurs, la maintenance des équipements et l’animation scientifique de la plateforme de microscopie électronique (P2M).
Depuis l’observation d’une écaille de serpent de mer ou la préparation d’échantillons de minéraux jusqu’à la caractérisation de fibres d’amiante, les applications sont nombreuses pour l’industrie, la recherche et la formation.

Services et tarifs

  • Préparation d’échantillons (en MET et en MEB)
  • Formations à la préparation d’échantillons et à l’observation
  • Séances d’observation autonome
  • Séance d’observation assistée
  • Projet collaboratif à long terme

Appareils

  • Microscopie électronique à balayage (MEB) : JEOL JSM – IT 300 LV
  • Microscopie électronique à transmission (MET) : JEOL 1400
  • Microanalyse chimique : Sonde EDX Cam 80 et logiciel AZtec, Oxford pour le MEB et le MET
  • Station cryo-microscopie
  • Ultramicrotome
  • Métalliseur

 

Contact

Pour toutes demandes d’informations ou d’utilisation de la plateforme :
Courriel : p2m@unc.nc
Tél. : 290 580

 

Accès

La plateforme se situe sur le campus universitaire au niveau de l’École supérieure du professorat et de l’Éducation (ESPE), à gauche de la salle conférence située au rez-de-chaussé.